Focused ion beam post-processing of optical fiber Fabry-Perot cavities for sensing applications

in: Optics Express (2014)
André, Ricardo M.; Pevec, Simon; Becker, Martin; Dellith, Jan; Rothhardt, Manfred; Marques, Manuel B.; Donlagic, Denis; Bartelt, Hartmut; Frazão, Orlando
Focused ion beam technology is combined with chemical etching of specifically designed fibers to create Fabry-Perot interferometers. Hydrofluoric acid is used to etch special fibers and create microwires with diameters of 15 μm. These microwires are then milled with a focused ion beam to create two different structures: an indented Fabry-Perot structure and a cantilever Fabry-Perot structure that are characterized in terms of temperature. The cantilever structure is also sensitive to vibrations and is capable of measuring frequencies in the range 1 Hz – 40 kHz.

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