Christian Mühlig erhält Posterpreis für LID-Absorptionsmesstechnik

Auf dem prämierten Poster stellte Christian Mühlig ein neues Verfahren der absoluten Kalibrierung photothermischer Absorptionsmessmethoden vor. Die Messung gibt Aufschluss darüber, wieviel Licht einer vorgegebenen Intensität von einem optischen Material mit definierter Geometrie absorbiert wird. In diesem Fall untersuchte der Wissenschaftler nichtlineare Kristalle, das heißt Materialien, die in der Optik zur Umwandlung oder Verdopplung bzw. Verdreifachung von Licht einer Wellenlänge dienen. Das patentierte Sandwich-Messkonzept basiert auf der Laser-induzierten Teststrahlablenkung (engl.: laser induced deflection – LID). Mit Hilfe des neuen Konzepts können Absorptionsmessungen von optischen Materialien mit einem universellen, leicht zu bearbeitendem und preiswertem Material wie Aluminium kalibriert werden. Anders als bisher, müssen die genaue Zusammensetzung des Untersuchungsmaterials und dessen photothermische Eigenschaften nun nicht mehr im Vorfeld bekannt sein. Neben einem massiven, gravierten Glasblock erhielt Christian Mühlig ein Preisgeld in Höhe von 500 US$. 

Die am Leibniz-IPHT entwickelte LID-Absorptionsmesstechnik mit ihren patentierten Messkonzepten gehört zu den weltweit führenden Techniken zur absoluten Messung sehr kleiner Absorptionen (weniger als eines von einer Million eingestrahlter Photonen). Neben dem Einsatz in Forschungsprojekten wurde die LID-Messtechnik in den letzten Jahren gemäß dem IPHT-Leitgedanken „From Ideas to Instruments“ zu einem praxistauglichen Prototyp weiterentwickelt. Ein solches Messgerät wird in Zusammenarbeit mit der Firma Speck Sensorsysteme GmbH angeboten und soll demnächst bei der Firma Nikon in Japan zum Einsatz kommen.

 Die LASER Damage fand vom 24. bis 27. September 2017 in Boulder, Colorado (USA) statt. Themen der jährlichen Konferenz sind optischen Materialien und Komponenten für Hochleistungslaser und deren Anwendung.