Direkte Absorptionsmessung an dielektrischen Schichten und Festkörpern

in: Temporal Proceedings (2013)
Mühlig, Christian; Bublitz, Simon; Paa, Wolfgang
Zur Charakterisierung sogenannter „low loss“ Optiken sowie zur Optimierung von Herstellungsprozessen (Bulkmaterial/Beschichtung) werden in zunehmendem Maße direkte Absorptionsmessverfahren eingesetzt. Die ermittelten absorptionen sind relevante Größen in der Simulation thermischer Linsen und deren unerwünschten Auswirkungen, speziell für Anwendungen unter intensiver Laserbestrahlung. Das am IPHT etablierte LID-Verfahren zeichnet sich dabei besonders durch den Einsatz einer unabhängigen (elektrischen) Kalibrierung aus, die eine absolute Absorptionsbestimmung ohne Kenntnis von fotothermischen Materialparametern ermöglicht.

DOI: Array

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