Mikroskopie

Ein entscheidendes Kriterium bei Auswahl und Qualifizierung optischer Komponenten für Hochleistungslaseranwendungen sind opt. Verluste in den entsprechenden Materialien und Schichten. Absorptionen im ppm-Bereich und Reflexionen > 99,99% sind hochgenau zu bestimmen. Da auch Kosten für Probenpräparation und Messzeiten minimiert werden müssen, ist der Einsatz spezieller und problemangepasster Methoden notwendig. Eine photothermische Methode zur Absorptionsmessung ist das bei uns entwickelte Teststrahl-Ablenkungs-Verfahren (LID: Laser Induced Deflection). Die Möglichkeit dieses Verfahren und die dabei verwendeten Messgeometrien für eine Reihe von Aufgabenstellungen anzupassen, erlaubt die direkte und absolute Messung von Volumen-, Schicht- und Grenzflächenabsorptionen an einer einzigen Probe und in einer einzigen Messung. Genauigkeiten bis zu A=10-8 cm-1 wurden nachgewiesen und ein kompakter Prototyp entwickelt, mit dem neben Material- auch Beschichtungsentwicklungen bei extrem geringen Absorptionswerten vorangetrieben werden können. Bei Reflexionsmessungen mittels Cavity Ring-Down (CRD) Verfahren werden zu-sätzlich Verluste im ppm-Bereich bestimmt.